WBE-KSH1000 / Cámara de prueba de cambio rápido de temperatura

La pieza de prueba se puede someter a pruebas de estrés térmico (ESS), detección de temperatura y humedad, pruebas de confiabilidad, etc. Las tasas de rampa de temperatura comúnmente utilizadas son 5 ° C / min, 10 ° C / min, 15 ° C / min, 20 ° C / min y 25 ° C / min.

Áreas de aplicación:

Chips semiconductores, instituciones de investigación científica, inspección de calidad, nuevas energías, comunicaciones optoelectrónicas, industria aeroespacial y militar, industria automotriz, pantallas LCD, industrias médicas y otras industrias tecnológicas.

Estándares de prueba:

GB / T 2423.1 Método de prueba de baja temperatura, Método de prueba de alta temperatura GJB 150.3, Método de prueba de alta temperatura GB / T 2423.2, Prueba de baja temperatura GJB 150.4, Método de prueba de ciclo de humedad GB / T2423.34, Método de prueba de humedad GJB 150.9, Método de prueba de temperatura y humedad IEC60068-2, Método de prueba de humedad MIL-STD-202G-103B

Características del producto:

1. El producto cumple con los requisitos de rampa de temperatura lineales y no lineales.
2. Cumple con los requisitos de velocidad de rampa de temperatura de 5 °C / min a 30 °C / min.
3. Las características opcionales incluyen nitrógeno líquido, calor húmedo y anticondensación.
4. Utilizando tecnología de válvula de expansión electrónica y un sistema de control innovador, el producto logra ahorros de energía superiores al 45%.